冷熱沖擊試箱相關(guān)資料：
冷熱沖擊試驗(yàn)箱?：用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在*短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。 用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具.
二、冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)
國(guó)軍標(biāo)GJB150.3-86；國(guó)軍標(biāo)GJB150.4-86；國(guó)軍標(biāo)GJB150.5-86；
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：
1、溫度范圍：-40℃～+150℃、-55℃～+150℃、、-65℃～+150℃
2、溫度上限：+175℃
3、溫度下限：-60℃
4、溫度偏差：±2℃
5、溫度波動(dòng)度：±0.5℃
6、溫度恢復(fù)時(shí)間：5min
7、溫度恢復(fù)條件：高溫+150℃保溫≥30min，低溫-60℃保溫≥30min，試品重量在規(guī)定范圍內(nèi)
8、試品轉(zhuǎn)移時(shí)間：≤15秒
9、試品轉(zhuǎn)移方式：采用氣動(dòng)
10、試品重量：≤3kg
11、高溫室升溫時(shí)間：30min (+25℃～+100℃)
12、低溫室降溫時(shí)間：60min (+25℃～-55℃)
13、噪音：（dB）≤65
14、電源：AC380V/50Hz+保護(hù)接地
15、總功率：20KW
冷熱沖擊試驗(yàn)箱型號(hào)及尺寸（D*W*H mm）：
| 型號(hào) | 工作室尺寸 | 外形尺寸 |
| BE-CH-50A | 400X350X360MM | 1560X1950X1380MM |
| BE-CH-72A | 450X400X400MM | 1650X1800X1730MM |
| BE-CH-100A | 500X450X450MM | 1700X1800X1730MM |
| BE-CH-150A | 600X500X500MM | 1800X1800X2400MM |
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